纯金、纯银、纯铂及均匀金、非均匀金、K金都能有效测定，测试前必需有国家标准校定，标准的级差要小，才能保持测试的精度。现在市场上有一种叫"小荧光"的仪器，精度较低，对K金难以测定。 [url=http://www.cejinyi.com/]X射线荧光光谱测[/url]金仪利用样品在原级X射线激发下，各元素产生各自的二次特征X射线（荧光）辐射。在激发条件一定的情况下，荧光辐射强度于盖元素在样品中的含量呈正比。通过测量各元素的荧光辐射强度，并由计算机按一定数学模式计算，可以求出各元素在饰品中的含量。测量前后，饰品结构、成分和形状均不改变，检测为无损检测。 以下是我们公司其中一款仪器EXF9600的一些相关的技术指标
分析范围： 0.001%～99.999%
测量时间： 自适应
元素分析： 从Al～U的所有元素
测量精度： ±0.001%～0.1%
X射线源：Mo靶的X射线光管 风冷（无辐射） 摄像头：高清晰摄像定位系统，工作可靠，效率高双屏显示设计，造型时尚专业；集成工业计算机，无需外接电脑；超高的分辨率可以轻松解决贵金属行业无损检测的任何复杂要求，为贵金属行业顶级光谱仪。探测器：Si-PIN探测器；半导体制冷 高压器：4～80Kv
分析：多通道模拟软件：XRF6.0菜单式软件，带硬件参数调整和数据评估及计算；软件除能显示金属百分比纯度外，亦可显示黄金K 值；软件可自动重复检测，自动测算多次检测的均值镀层测量：镀层厚度范围<30um
温度：5～46℃
电压： 220～240V,50/60Hz 最大功率：144W重量：35公斤
尺寸：605*432*284mm
操作系统： Windows2000/Me/XP 厂家：深圳市西凡谨顿科技有限公司
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